一、设备描述
(1) 设备名称：二次元投影测量仪
(2) 设备型号：AIM-432P
(3) 测量行程：X:400mm，Y:300mm，Z:200mm
(4) 应用领域：来料检验，成品检验部门
二、产品特点
1.一体式设计，方便操作；保证仪器刚性质量比，精度更稳定。
2.测量软件可以按照要求预设定测量元素，进行投影比对测量。
3.开放式光栅尺0.5μm，线纹尺校准、空间面补偿，保证仪器全方面的高精度。
4.XY平台移动结构，高精度花岗岩石底座，保证仪器的长期稳定、不变形。
5.丰富的光源选择，随意切换灯源项。LED白色光种，精准捉边，重复性高。
6.高分辨率的彩色CCD，高清晰度影像效果，高质量的影像画面。
7.采用精密直线导轨，更采滚珠丝杆传动，XY移动速度可达200mm/s。
8.采用5段变焦镜头，随意改变倍率，无需再做线性校准（像素校准），提高仪器使用率。
三、二次元投影测量仪技术参数
规格型号 | AIM-432P |
量测范围（XYZ） | 400X300X200 |
外观尺寸 | 700X900X1650 |
重量 | 280KG |
承重 | 30KG |
传动方式 | 直线导轨+滚珠丝杆+伺服电机 |
XY移动速度 | 200mm/s |
平台、底座材质 | 高精度花岗岩00级（山东济南青） |
XY 精度 | （3+L/200）μm |
光栅尺分辨率 | 开放式XYZ：1μm |
镜头 | 4K高清镜头 |
镜头倍率 | 光学放大倍率：0.7X-4.5X 影像放大：56X-280X(23.5寸显示器) |
CCD影像 | 1/1.8靶面尺寸 200万像素彩色CCD |
轮廓光 | LED白色近平行光 |
表面光 | LED白色的程控的上灯 |
四、产品配置清单
序号 | 名称 | 规格 | 单位 | 数量 | 备注 |
1 | 机身 | AIM-432P | 套 | 1 | |
2 | 底座 | 一体式 | 套 | 1 | |
3 | 软件 | 加密锁 | 套 | 1 | |
4 | 校正块 | 定制 | 块 | 1 | |
5 | 光学玻璃 | 定制 | 块 | 1 | |
6 | 电脑 | 专用电脑 | 套 | 1 | 含显示器 |
7 | 摇杆 | HC3 | 套 | 1 | |
8 | 软件说明书 | 软件操作使用说明书 | 本 | 1 | |
9 | 合格证 | 产品合格证 | 份 | 1 | |
10 | 出场质量检验表 | 仪器出厂质量检验表 | 份 | 1 |
五、产品测量软件功能
1、功能强大的3D测量软件，可以方便快捷的对各种工件进行精确量测，为用户提供了完善的测量解决方案；
2、支持Win7、Win10、Win11操作系统，软件基于全新的 64位架构，可以支持巨量元素测量，功能及运算能力更强大；
3、程序自动测量、自动对焦、自动寻边、自动程控灯光，减少人工干预；
4、具备一键定位功能，对产品自动识别，自动定位，同时测量多个产品，批量测量产品、超差复测等功能；
5、支持CAD导入自动编程，扫描轮廓导出CAD功能，支持If、Elif、Else、 ForEach语句，支持变量管理，程序内支持判定语句及变量的设置调用；
6、完整的几何量测工具，完整的形状构造功能，完整的形位公差评价体系，强大的抓边工具；
7、可输出Excel/Word/ PDF/ CSV/ TXT等文档，程序运行完成支持同时输出多个文档及不同种类的文档；
8、工件全景图形扫描，GPS导航，快速找到需测量的位置；
9、可选配点光谱、线激光系统和探测系统，结合软件可进行大量程、高精度3D测量；
10、可选配光谱扫描激光系统：支持点采集功能，自动快速对焦，支持扫描点云并输出平均值，支持扫描点云拟合曲线、直线、圆弧、面，支持计算基准点和各测量点之差，输出翘曲度、面轮廓，支持测量深孔高度、平面度；
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